Sameusmittauksen soveltuvuus kuidun ja hienoaineen ominaispinnan karakterisointiin
Sameusmittauksen soveltuvuus kuidun ja hienoaineen ominaispinnan karakterisointiin
Tallennettuna:
Ulkoasu |
iii, 54, [5] lehteä : kuvitettu ; 30 cm |
---|---|
Kieli |
suomi |
Alkuteoksen kieli |
suomi |
Tiivistelmän kieli |
englanti |
Julkaisija |
Espoo :
Teknillinen korkeakoulu,
1999
|
Opinnäyte | Erikoistyö : Espoon-Vantaan teknillinen ammattikorkeakoulu |
Sarja | Reports / Helsinki University of Technology, Laboratory of Paper Technology, Series B, ISSN 1456-7180; 11. |
Luokitus | |
Aiheet | |
Valmistaja | (Pika-jäljennös) |
Lisätiedot | Mikko Jokinen |
ISBN |
951-22-4588-4 nidottu |
Hae kokoteksti |