Pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja sen käyttö puolijohdekomponenttien luotettavuustutkimuksissa
Finna-arvio
Pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja sen käyttö puolijohdekomponenttien luotettavuustutkimuksissa
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
[6], i, 82, [3] sivua : kuvitettu ; 30 cm |
|---|---|
| Kieli |
suomi |
| Alkuteoksen kieli |
suomi |
| Tiivistelmän kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Hki :
Posti- ja telelaitos. Teletutkimuslaitos,
1985.
|
| Sarja | Teletutkimuslaitoksen julkaisu, B, ISSN 0780-3672; 6. |
| Luokitus | |
| Lisätiedot | Aarni Soininen |
| ISBN |
951-46-8881-3 nidottu |
| Hae kokoteksti | |