Evaluation of failure mechanisms in electronics using X-ray imaging
Evaluation of failure mechanisms in electronics using X-ray imaging
Tallennettuna:
| Genre | |
|---|---|
| Ulkoasu |
72 sivua, 27 sivua useina numerointijaksoina : kuvitettu ; 25 cm Julkaistu myös verkkoaineistona |
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Huomautukset |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 3 eripainosta. |
| Julkaisija |
Lappeenranta :
Lappeenranta-Lahti University of Technology LUT,
[2022]
|
| Opinnäyte | Väitöskirja : Lappeenrannan-Lahden teknillinen yliopisto LUT, 2022 |
| Sarja | Acta Universitatis Lappeenrantaensis, ISSN 1456-4491; 1038. |
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Valmistaja | LUT University Press, 2022. |
| Lisätiedot | Jonny Mikael Ingman |
| Verkkoaineisto |
978-952-335-851-5 |
| ISBN |
978-952-335-850-8 pehmeäkantinen |
| Hae kokoteksti | |