Atomic scale engineering and understanding of novel interfaces between oxide films and semiconductor crystals
Atomic scale engineering and understanding of novel interfaces between oxide films and semiconductor crystals
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
Yhteenveto-osa julkaistu myös verkkoaineistona vii, 59 sivua, 27 numeroimatonta sivua : kuvitettu ; 25 cm |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Tiivistelmän kieli |
suomi |
| Huomautukset |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 5 eripainosta. |
| Julkaisija |
Turku :
University of Turku,
2017.
|
| Opinnäyte | Väitöskirja : Turun yliopisto, matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, 2017 |
| Sarja | Turun yliopiston julkaisuja, Sarja A 1, Astronomica. Chemica. Physica. Mathematica, ISSN 0082-7002; osa 551. |
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Valmistaja | Turku, Finland : Painosalama Oy |
| Lisätiedot | Muhammad Yasir |
| Verkkoaineisto (yhteenveto-osa, PDF) |
978-951-29-6711-7 |
| ISBN |
978-951-29-6710-0 nidottu |
| Hae kokoteksti | |