Semiconductor memories : technology, testing, and reliability
Finna-arvio
Semiconductor memories : technology, testing, and reliability
Tallennettuna:
| Genre | |
|---|---|
| Ulkoasu |
1 PDF (xii, 462 pages) : illustrations Also available in print |
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Huomautukset |
"IEEE order number: PC3491"--P. [4] cover. "IEEE Solid-State Circuits Council, sponsor." |
| Julkaisija |
Piscataway, New Jersey :
IEEE Press,
c1997.
|
| Aiheet | |
| Lisätiedot | Ashok K. Sharma |
| Painettu |
9780780310001 |
| Bibliografia |
Includes bibliographical references and index. |
| ISBN |
9780470546406 electronic electronic |
| DOI | 10.1109/9780470546406 |
| Pääsy | Luettavissa Jyväskylän yliopiston verkossa; Access limited to Jyväskylä University network |
| Huomautukset |
IEEE |
| Standarditunnukset |
doi 10.1109/9780470546406 |
| Julkaisijan tunnus |
IEEE 5264189 IEEE ocn557450363 |
| Hae kokoteksti | |