Semiconductor material and device characterization
Finna-arvio
Semiconductor material and device characterization
Tallennettuna:
| Genre | |
|---|---|
| Ulkoasu |
1 PDF (xv, 779 pages) : illustrations Also available in print |
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Huomautukset |
"Wiley-Interscience." |
| Julkaisija |
[Piscataway, New Jersey] :
IEEE Press,
c2006.
|
| Aiheet | |
| Lisätiedot | Dieter K. Schroder |
| Painettu |
9780471739067 |
| Bibliografia |
Includes bibliographical references and index. |
| ISBN |
9780471749097 electronic electronic |
| DOI | 10.1002/0471749095 |
| Pääsy | Luettavissa Jyväskylän yliopiston verkossa; Access limited to Jyväskylä University network |
| Huomautukset |
IEEE |
| Standarditunnukset |
doi 10.1002/0471749095 |
| Julkaisijan tunnus |
IEEE 5237928 IEEE ocn163140623 |
| Hae kokoteksti | |