Scattering and refraction as contrast mechanisms in x-ray imaging
Scattering and refraction as contrast mechanisms in x-ray imaging
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
Myös verkkoaineistona (ISBN 978-952-10-3939-3, PDF) vi, 105 sivua : kuvitettu ; 26 cm |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Helsinki :
University of Helsinki,
2008
|
| Opinnäyte | Väitöskirja Helsingin yliopisto |
| Sarja | Report series in physics, D, ISSN 0356-0961; 155. |
| Luokitus | |
| Valmistaja | (Helsinki : University Printing House) |
| Lisätiedot | Heikki Suhonen |
| ISBN |
978-952-10-3938-6 nidottu |
| Hae kokoteksti | |