Modeling and measurement methods for high speed bipolar transistors
Modeling and measurement methods for high speed bipolar transistors
Tallennettuna:
Ulkoasu |
[102] sivua : kuvitettu ; 25 cm |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Huomautukset |
Tiivistelmä ja 5 erip. |
Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1989
|
Opinnäyte | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
Sarja | Report / Helsinki University of Technology. Faculty of Electrical Engineering. Electronic Circuit Design Laboratory, ISSN 0783-9448; 11 |
Luokitus | |
Aiheet | |
Valmistaja | ([Hki] : Hakapaino) |
Lisätiedot | Markku Sipilä |
ISBN |
951-754-881-8 nidottu |
Hae kokoteksti |